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      膜厚測試儀的使用方法和注意事項有哪些?

      發布時間:2022-04-25   點擊次數:40次
        膜厚測試儀又名膜厚測試儀,分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
        膜厚測試儀在使用時,擺放在物件的上方,從儀器當中發射了垂直向下的可視光線。其中一部分光會在膜的表面形成一個反射,另一部分則會透過儀器的薄膜,在薄膜與物件之間的界面開成反射,這個時候,薄膜的表面,以及薄膜的底部同時反射的光會造成干涉的現象。儀器便是利用了這樣的一種現象,從而測量出物件的厚度。厚度的測量看似簡單,實測上所利用的光反射原理,卻是需要經過一系列的設計才能達到如此理想狀態。如此光學膜厚測量儀的使用,便也有著其它傳統測厚儀所沒有的優點。
        膜厚測試儀的使用注意事項:
        1.零點校準
        在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準,因為之前的測量參數會影響該次對物體的測量,零點校準可以消除前次測量有參數的影響,能夠降低測量的結果的誤差,使測量結果更加精確。
        2.基體厚度不宜過薄
        在使用膜厚測試儀對物體進行測量時基體不宜過薄,否則會極大程度的影響儀器的測量精度,造成數據結果不準確,影響測量過程的正常進行。
        3.物體表面粗糙程度
        對于被測物體的表面不宜太過粗糙,因為粗糙的表面容易引起光的衍射,降低了光學測量儀的測量精度,造成很大的誤差。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑,以保證測量結果的精確性。
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