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      X熒光膜厚儀

      更新時間:2020-04-13

      簡要描述:

      X熒光膜厚儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時&#183;產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,一種無損、快速、精確的膜厚測試儀器,對金屬鍍層(鍍金、鍍錫、鍍鋅、鍍鋁、鍍鉛、鍍銀、鍍鎳等),廣泛應用于電路板、連接器、金屬絲、鏈接插件、引線框架、汽車零部件、半導體、電子產品、五金工具等企業中,打破了國外(例如:德國Fischer)壟斷局面,在電鍍行業占有 一定地位,為

      X熒光膜厚儀產品介紹

       

      X熒光膜厚儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,一種無損、快速、精確的膜厚測試儀器,對金屬鍍層(鍍金、鍍錫、鍍鋅、鍍鋁、鍍鉛、鍍銀、鍍鎳等),廣泛應用于電路板、連接器、金屬絲、鏈接插件、引線框架、汽車零部件、半導體、電子產品、五金工具等企業中,打破了國外(例如:德國Fischer)壟斷局面,在電鍍行業占有 一定地位,為企業提供有效解決方案。

       

      X熒光膜厚儀技術參數

       

      *工作穩定性高,故障率低。

      多變量非線性回收程序

      相互獨立的基體效應校正模型

      元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層(鍍金、鍍錫、鍍鋅等)

      一次可同時分析多達五層鍍層,快速、準確。

      zui薄可測試0.005μm

      分析含量一般為2ppm99.9% 

      鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)

      任意多個可選擇的分析和識別模型

      度適應范圍為15℃30℃

      電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源

      儀器尺寸:576W) x 495 D) x 545H) mm

      重量:90 kg

       

      性能優勢

       

      鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點

      高分辨率探頭使分析結果更加精準

      良好的射線屏蔽作用

      測試口高度敏感性傳感器保護

      滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

      zui小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

      高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm

      采用高度定位激光,可自動定位測試高度

      定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊

       

      檢測實例

       

      銅鍍鎳樣品

       

      X熒光膜厚儀測試譜圖

       

      樣 品 名

      成分Ni(%)

      鍍層Ni(um)

      吊扣

      100

      19.321

      吊扣2#

      100

      19.665

      吊扣3#

      100

      18.846

      吊扣4#

      100

      19.302

      吊扣5#

      100

      18.971

      吊扣6#

      100

      19.031

      吊扣7#

      100

      19.146

      平均值

      100

      19.18314

      標準偏差

      0

      0.273409

      相對標準偏差

      0

      1.425257

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